GP300探針臺(tái)12英寸手動(dòng)探針臺(tái)

GP300探針臺(tái)產(chǎn)品數(shù)據(jù)：

1. 機(jī)臺(tái)可輕松實(shí)現(xiàn)DC ~ THZ測量。

2. 提供芯片級(jí)I-V / C-V低噪聲測試系統(tǒng)方案。

3. 優(yōu)異的三軸設(shè)計(jì)，保證I-V測試漏電精度達(dá)到fa等級(jí)。

4. 多孔吸附式載物臺(tái)設(shè)計(jì)，更好地兼容薄晶圓固定。

5. 高品質(zhì)顯微鏡搭配高分辨率CCD系統(tǒng)，可直觀了解扎針情況，提高扎針的準(zhǔn)確性和效率。

6. 可升級(jí)的高低溫系統(tǒng)，為芯片提供更加成熟穩(wěn)定的老化測試環(huán)境。

7. 緊湊且可靠的機(jī)械設(shè)計(jì)，更適用于芯片的測試及建模系統(tǒng)升級(jí)。

8. 能夠根據(jù)未來需求，可提供多種升級(jí)模塊，輕松實(shí)現(xiàn)探針臺(tái)功能升級(jí)。

9. 短軸式拉桿設(shè)計(jì)，將更加符合新一代芯片系統(tǒng)測試的需求。拉桿在任意位置可停留、極限位置能快速鎖定、分離位可固定，將進(jìn)一步防止誤操作，提高測試效率，節(jié)省成本。

溫控系統(tǒng)局部細(xì)節(jié)圖--高溫低漏電載物臺(tái)

搭載直流和射頻探針座實(shí)物照片

搭載思儀太赫茲系統(tǒng)實(shí)物