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現(xiàn)代射頻集成電路的設計調試和測試是另一項復雜的任務。 除了射頻輸入和輸出信號外，設備還需要無振蕩偏置以及數(shù)字控制信號（例如，用于改變放大器的增益）。所有這些都需要通過為每個產品單獨配置的盡可能小的接觸墊傳送到集成電路。基于多年射頻探測技術實操經(jīng)驗和深耕，為滿足國產測試需求而研制，可N個觸點射頻探測技術，快速測試您的RF IC。

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